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형광X선 두께측정
X-ray fluorescence coating thickness measurment

등록 : 2008.09.19 ⋅ 42회 인용

출처 : 표면기술, 40권 2호 1989년, 일본어 7 페이지

분류 : 연구논문

자료 : 있음(다운로드불가)

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자료요약
카테고리 : 시험분석 | 글입력 : 티타늄 | 최종수정일 : 2012.08.21
형광 X선 막후측정법의 측정원리와 특징에 관하여 설명하고, 최근 새로운 형의 반도체검출기를 채용한 장치의 특징에 관하여 설명