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X선 관전자분광법과 이온마이크로아나리시즈법에 의한 인산염피막결정의 조성분석
Chemical component analysis of zinc phosphate crystal by means of XPS and IMA method

등록 2008.08.19 ⋅ 58회 인용

출처 금속표면기술, 38권 1호 1987년, 일본어 5 쪽

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자료요약
카테고리 : 화성피막 | 글입력 : 무대뽀 | 최종수정일 : 2015.01.13
X선 광전자분광법(XPS), 또는 이온마이크로아나리시즈법(IMA)를 이용하여 인산염피막결정성분에 관한 표면해석을 한 보고서
  • 탈아연 부식방지법으로 부식성 환경에 부식억제 첨가에 따라 60/40 황동의 탈아연 부식방지의 가능성을 검토
  • 구리의 전착에 관한것으로, 특히 산성 전해질로부터 기공이 없는 밝고 매끄러운 구리피막의 전착에 관한 것이다.
  • 제2인산소다 Sodium Phosphate Dibasic Dodecahydrate Na2HPO4ㆍ12H2O = 358.14 g/mol CAS 10039-32-4 물에 용해, 알코올에는 불용 참고 [인산소다] [탈지제]
  • 일반적으로 사용되는 크롬계 방식처리와 새로운 무공해 인산계 처리에 관하여 특징을 설명하고, 통상 사용되는 I.G. 처리후의 색조 불균일에 관하여 설명
  • 박리 · Stripping / Peeling 도금층을 박리하는 방법으로서는 연마, 블라스트, 호닝 등의 기계적 방법, 박리 용액에 침지시키는 화학적 방법, 제품을 양극으로 하여 전기화...