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형광X선 두께측정
X-ray fluorescence coating thickness measurment

등록 2008.09.19 ⋅ 55회 인용

출처 표면기술, 40권 2호 1989년, 일본어 7 페이지

분류 연구논문

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자료요약
카테고리 : 시험분석 | 글입력 : 티타늄 | 최종수정일 : 2012.08.21
형광 X선 막후측정법의 측정원리와 특징에 관하여 설명하고, 최근 새로운 형의 반도체검출기를 채용한 장치의 특징에 관하여 설명
  • 전처리 · Pretreatment 전처리는 도금 (금속) 에 들어가기 전의 모든 공정을 전처리라고 말한다. 그중 탈지ㆍ산처리ㆍ활성화 등은 도금 공정에서 빠질 수 없는 중요 전처리 ...
  • 시안화 구리도금 ^ Cyanide Copper Plating 시안화 구리도금은 가장 널리 사용되는 것으로, 가장 오래된 구리도금 방법으로 시안화구리 복합체로 구성된다. 〔Cu(CN)3〕2- ...
  • 1-하이드록시에탄 -1,1- 디포스폰산을 코발트 Co(ii) 의 착화제로한 도금욕을 개발하고, 이 도금욕 조성과 욕성능에 관하여 설명
  • 전류효율 정전륩법에 의한 분극곡선측정에 의한 니켈전석 및 염소 Cl- 이온의 효과를 밝히고, 자연전극 전위 전기이중층 용량 및 전위주사법에 의한 전위-전류곡선 측정에 ...
  • 무전해 구리도금의 포르마린 산화환원 반응을 촉진하는 수단으로 전기도금을 병용하여, 무전해 구리도금 반응을 촉진하고 우수한 피막물 무전해 구리도금성을 만들 목적의 연구