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6가크롬 검출 시험
Qualitative analysis of Cr-VI in passivation layers on part by spot analysis

등록 2009.06.12 ⋅ 61회 인용

출처 SurTec, , 영어 2 쪽

분류 기타

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자료요약
카테고리 : 시험분석 | 글입력 : goldbug | 최종수정일 : 2012.08.20
크롬검출 시험
  • 반도체 디바이스 등의 기판의 품질을 저하시키지 않고, 기판 상의 배선부에 환원력이 약한 환원제를 이용한 도금액에 의해 무전해도금을 실시하는 것이 가능한 무전...
  • 다마신 반도체칩 공정에서 구리 Cu 회로를 위한 배리어 및 캡핑층으로 무전해도금된 코발트 Co 및 니켈 Ni 의 사용을 조사 중이다. 이러한 금속은 금속 질화물 재료...
  • 주석 · Tin (Stannous) 주석, 석은 원소 기호 Sn, 원자 번호는 50이다. 은색의 가단성이 있는 전이금속으로 쉽게 산화되지 않으며 부식에 대한 저항성이 크다. 합금 또는 다...
  • COD
    COD 화학적 산소요구량 ^ Chemical Oxygen Demand 오염된 물의 수질을 나타내는 방법으로, 방류수 등의 물에 산화제를 투입하여 산화시키는 데 소비된 산화제의 양 〔과망간...
  • 미국에는 약 13,000 개의 금속표면처리 및 인쇄 회로 업체 있다. 미국 환경보호국 (EPA)은 1986년에 금속표면처리 산업이 129,000,000 갤런의 금속함유 폐기물을 생성했다고...