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형광X선 두께측정
X-ray fluorescence coating thickness measurment

등록 : 2008.09.19 ⋅ 38회 인용

출처 : 표면기술, 40권 2호 1989년, 일본어 7 페이지

분류 : 연구논문

자료 : 있음(다운로드불가)

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자료요약
카테고리 : 시험분석 | 글입력 : 티타늄 | 최종수정일 : 2012.08.21
형광 X선 막후측정법의 측정원리와 특징에 관하여 설명하고, 최근 새로운 형의 반도체검출기를 채용한 장치의 특징에 관하여 설명
  • OCT
    OCT 5ㆍ10ㆍ14ㆍ15 ^ Carrier for high temperature CAS : Mol : 204.3 성상 : 황색 진한 액체로 물에 용해 순도 : >95% pH : 6 ~ 9 [아연도금] 등의 [BZA] 캐리어로 사용 ...
  • 양극산화 업계에 넓게 정착된 황산의 전해액으로 투명한 양극산화 피막의 미세공에 염료를 흡착하는 염색법과 금속을 석출하는 전해착색법의 원리와 용도에 관하여 설명
  • 레지스터 패턴이 형성된 전도성 소재에, 광택제가 첨가된 설파민산 니켈도금액을 이용하여 광택이 있는 니켈금속을 석출하여, 복안 렌즈 凸형 금형을 제조하는 방법을 검토...
  • 아연 4~30 g/l 및 니켈 0.05~4 g/l 와 함께 알칼리 수산화물 50~220 g 을 포함하는 수용액의 아연니켈합금도금용액, 4~110 g/l 의 착화제, 0.1~10 g/l 의 1차 광택제, 0...
  • 본 발명은 전기주조용 첨가제에 관한 것으로, 특히 4 차 암모늄 -N- 알킬- 설폰산의 내부염으로 개질된 니켈 전기 도금욕에 관한 것이다.