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10 ㎛ 레벨의 도금배선 기술
10um-Rule Pattering technology using copper electroplating

등록 : 2008.09.08 ⋅ 41회 인용

출처 : 표면기술, 53권 4호 2002년, 일어 6 쪽

분류 : 해설

자료 : 있음(다운로드불가)

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자료요약
카테고리 : 인쇄회로 | 글입력 : 티타늄 | 최종수정일 : 2022.07.22
소형 저코스트 패키지기술로서 개발, 양산화된 "웨이퍼 레벨 CSP" 의 "10 ㎛ 레벨의 배선기술" 과 "수퍼 코넥타기술" 과의 관련과 발전성에 관하여 설명