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주석 위스커의 발생 메카니즘과 평가
Sn Whiskering Mechanizm and its Evaluation

등록 : 2015.03.25 ⋅ 17회 인용

출처 : 표면기술, 63권 11호 2012년, 일어 4 쪽

분류 : 해설

자료 : 있음(다운로드불가)

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기타 :

すずウィスカの発生メカニズムと評価

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자료요약
카테고리 : 석납/합금 | 글입력 : goldbug | 최종수정일 : 2022.07.25
주석 아연 등의 저융점 금속은 전자 기기의 제조에있어서 도금 재료, 연결 재료로서의 유용성이 높은 반면, 저 융점이다. 그러므로 위스커 발생의 문제, 전자장비의 다양한 고장을 유발한다. 1950 년에서 1960 년대에는 전화 교환기 등의 사회 인프라 장비 고장이 잦아 매우 많은 위스커에 관한 연구가 이루어졌으며, 시행 ...
  • 납땜 조인트의 납 Pb, 특히 반도체 (SC) 부품 핀마무리에 납에 초점을 맞추고 적절한 대체품을 찾는데 직면한 중대한 과제에 중점을 두었다.
  • 이 작업은 철분말의 무전해니켈 도금의 기술적 타당성을 보여주었다. 도금된 분말은 높은수준의 균질성을 나타내며 소결된 콤팩트는 우수한 기계적 특성을 가지고 있다. 분...
  • 항공 우주 기업들은 항공 우주 NESHAP 가 발행되기 훨씬 전에 대기오염 제어 시스템없이 규제 요건을 충족하는 피막을 평가하기 위해 자원을 투입하였다.
  • 전세계 가전제품, 전자, 자동차, 항공 우주 산업, 소비자 또는 비즈니스 장비, 의료보험에 사용되는 부품 및 어셈블리에서 신뢰할수 있는 마감을 생산하는데 필수적인 일관...
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