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검색글 서브미크론 3건
전기구리 도금에 의한 ULSI 배선 형성
Formation of intergrated circuit interconnection using copper electroplating

등록 : 2009.04.16 ⋅ 49회 인용

출처 : 일렉트로닉스실장, 4권 3호 2001년, 일본어 6 쪽

분류 : 연구

자료 : 있음(다운로드불가)

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자료요약
카테고리 : 구리/합금 | 글입력 : goldbug | 최종수정일 : 2022.07.29
구리도금욕중의 첨가제를 억제함에 따라 써브미크론 오다의 ULSI 배선형성의 가능성에 관하여 검토
  • 부식을 억제하고 아연 및 카드뮴 부품의 표면을 밝게하는 방법과 이러한 방법에 사용하기 위한 도금액이다.
  • 아연도금을 주로 하고 있습니다. 그에 따라 J사의 Hull Cell 시편100EA를 5만원 정도에 구입하여 사용중인데, 대량 실험을 하다보니 가격적인 부담이 있습니다. 혹시 따로 ...
  • 염화구리 또는 황산구리 수용액에 탄산나트륨 및 황화나트륨의 5:1 당량비로 혼합한 수용액을 반응시켜 얻어진 탄산구리 및 황화구리를 1차로 170~300 ℃ 로 반응시켜 탄산구...
  • 수지형 도금 (樹枝鍍金) ^ Tress DendriteㆍTree Plating 피도금물에 발생하는 이상형 도금의 한 종류로, 도금표면이 나무잎 형태로 석출되는 도금을 말한다. 참고 [도금불...
  • 안녕하세요 현재 질산은을 이용한 은경막 도장을 하고 있는데요 은경막 건조후 코팅처리를 하는 과정에서 코팅을 올리면 바로 누렇게 산화가 되어 버립니다. 은경막이 산화...