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납프리 주석-은 (Sn/3.5 Ag) 전기도금 범프공정과 언더 범프 금속화
Pb-Free Sn/3.5Ag Electroplating Bumping Process and Under Bump Metallization (UBM)

등록 2019.12.14 ⋅ 30회 인용

출처 Electronics Pakaging, 25권 3호 2002년, 영어 10 쪽

분류 연구

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저자

Se-Young Jang1) Juergen Wolf2) Oswin Ehrmann3) Heinz Gloor4) Herbert Reichl 5) Kyung-Wook Paik 6)

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자료요약
카테고리 : 석납/합금 | 글입력 : 화양별곡 | 최종수정일 : 2022.06.09
납프리 납땜은 오늘날 전자패키징 산업에서 가장 큰 문제중 하나다. 웨이퍼 레벨 범핑을 위해 새롭게 개발된 주석-은 Sn/3.5 Ag 합금도금 공정으로, 계면반응 및 기계적 강도에 대한 UBM (Under Bump Metallization) 의 영향을 조사하고, TiW/Cu/전기도금 Cu, Cr/CrCu/Cu, NiV/Cu 및 TiW/NiV 의 4 가지 유형의 스퍼터링 기반...
  • 박리 · Stripping / Peeling 도금층을 박리하는 방법으로서는 연마, 블라스트, 호닝 등의 기계적 방법, 박리 용액에 침지시키는 화학적 방법, 제품을 양극으로 하여 전기화...
  • 코발트염과 말레산 무수물, 에틸렌디아민 및 에피크로르 히드린의 공중 합체의 신규 복합체와 아연-코발트 합금 도금용 전기도금 조성물.
  • 무전해도금 반응은 니켈합금 전착을 생성할뿐만 아니라 또한 도금액에 축적되는 부산물도 생성한다. 부산물의 농도가 증가하면 도금반응에 미치는 영향도 증가한다. 다음 섹...
  • 정보기기나 각종계기반에는 표면소자로서 LCD, EL 및 PDP등이 넓게 사용되고 있으며, 이들 전자기기 디스프레이에 사용되고 있는 투명도전성피막의 형성방법과 응용예에 관...
  • 크롬기반 화학물질을 사용하지 않고 폴리 (에틸렌 테레프탈레이트) (PET) 필름의 니켈-인 Ni-P 무전해 금속화를 위한 화학적 표면처리를 연구하였다. 폴리머 및 금속화 피막...